123,123,123

當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 納米粒度儀及電位分析儀 > ZetaZF400-電位分析儀

產(chǎn)品分類

Product Category

納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

查看全部

相關(guān)文章

ZetaZF400型超聲電聲法Zeta電位儀

更新時間：2025-06-18

型號：ZetaZF400型

瀏覽量：2997

超聲電聲法Zeta電位儀可同時測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作。
了解詳情
Zeta-FinderZF400型ZetaFinder ZF400 高濃度Zeta電位分析儀

更新時間：2020-03-20

型號：Zeta-FinderZF400型

瀏覽量：5225

ZetaFinder ZF400 高濃度Zeta電位分析儀采用專門的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作；
了解詳情
zeta-APS原液超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀

更新時間：2023-03-17

型號：zeta-APS

瀏覽量：2316

原液超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀 1)測量樣品不需要稀釋或樣品準(zhǔn)備，從而消除了操作失誤和數(shù)據(jù)的不確定性，同時節(jié)省了時間； 2)物有所值的諧振硬件設(shè)計； 3)寬粒徑測量范圍：從5nm到1000um； 4)自動電位和容積測量用于簡單快速的等電位（IEP）測定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動態(tài)測定； 5)由于機載樣品混合和/或測量時的泵送能力，沒有粒子沉降的不利影響； 6)Zet
了解詳情
zeta-APS美國MAS超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀

更新時間：2023-03-17

型號：zeta-APS

瀏覽量：2213

美國MAS超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀 1)測量樣品不需要稀釋或樣品準(zhǔn)備，從而消除了操作失誤和數(shù)據(jù)的不確定性，同時節(jié)省了時間； 2)物有所值的諧振硬件設(shè)計； 3)寬粒徑測量范圍：從5nm到1000um； 4)自動電位和容積測量用于簡單快速的等電位（IEP）測定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動態(tài)測定； 5)由于機載樣品混合和/或測量時的泵送能力，沒有粒子沉降的不利影響； 6)Zet
了解詳情
電聲法粒度儀Zeta電位分析儀

更新時間：2021-09-08

型號：

瀏覽量：3469

電聲法粒度儀Zeta電位分析儀可測量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒；
了解詳情
美國MAS超聲粒度儀和Zeta電位分析儀

更新時間：2021-08-11

型號：

瀏覽量：2848

美國MAS超聲粒度儀和Zeta電位分析儀可測量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒；
了解詳情
美國MAS超聲粒度儀電位分析儀

更新時間：2021-08-11

型號：

瀏覽量：2448

美國MAS超聲粒度儀電位分析儀自動電位和容積測量用于簡單快速的等電位（IEP）測定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動態(tài)測定；
了解詳情
美國MAS超聲粒度儀超聲電位分析儀

更新時間：2021-07-27

型號：

瀏覽量：2629

美國MAS超聲粒度儀超聲電位分析儀自動電位和容積測量用于簡單快速的等電位（IEP）測定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動態(tài)測定；
了解詳情

共 14 條記錄，當(dāng)前 1 / 2 頁首頁上一頁下一頁末頁跳轉(zhuǎn)到第頁